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全自动上芯机的晶片检测系统

         

摘要

全自动上芯机是用于芯片生产后工序的关键设备之一,IC检测系统是其核心技术.晶片检测系统主要构件包括光源,CCD,图像采集卡等硬件设施,以及专用的芯片处理检测算法.文章详细介绍了基于图像处理的晶片专用检测系统的搭建,分析了图像检测要求,提出了相应的检测算法.系统地完成图像采集、图像预处理、芯片定位、芯片检测等多个功能.

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