高可靠锁相环设计技术研究

赵振宇; 赵学谦; 张民选; 郭斌; 秦军瑞

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高可靠锁相环设计技术研究

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单粒子瞬变(SET)现象对高性能计算的影响日益严重,本文对高性能微处理器中锁相环(PLL)的RHBD(Radia-tion-Hardened-By-Design)加固方法进行了分析和总结,从系统级和电路级两个方面对PLL的SET加固方法进行了分类研究。分析结果表明,设计加固方法可以在较高的层次上考虑加固问题,降低了工艺依赖性,可以有效地提高PLL可靠性。

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来源
《计算机工程与科学》 |2009年第a01期|76-79|共5页
作者
赵振宇; 赵学谦; 张民选; 郭斌; 秦军瑞;
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作者单位

国防科技大学计算机学院;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类金属-氧化物-半导体（MOS）器件;
关键词
软错误; SET; 锁相环; RHBD; 电路加固;

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