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考虑多输入同时翻转的晶体管级时序分析技术

         

摘要

为了克服现有延时模型所遇到的困难,本文对静态时序分析中通过晶体管级电路模拟来计算门延时的方法进行了研究,该技术的关键是延时测试波形的自动生成.文中分析了多输入同时翻转对最大门延时的影响,提出了一种可以用于测试波形生成的多输入同时翻转模型.基于该模型,提出了互补CMOS电路和传输管电路延时测试波形的生成算法.将模拟计算门延时的方法与晶体管级电路的功能模型提取技术结合在一起,实现了一个晶体管级电路的静态时序分析工具-SpiceTime.实验结果表明,SpiceTime的分析结果均大于HSPICE的模拟结果,而且误差不超过2.7%.SpiceTime的分析时间与电路大小成线性关系,单个门的平均分析时间约为0.3秒.实验结果表明,如果使用单信号翻转模型,最大延时聂多可以被低估4.8%.

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