基于STM32单片机的高精度微弱电容检测研究

王海霞; 林倩

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基于STM32单片机的高精度微弱电容检测研究

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针对以Pcap01为芯片的微电容测量系统高精度性问题,提出一种基于STM32f103单片机为控制器的微电容测量电路硬件设计,并可对0～3.5 nF之间的微小电容进行高精度测量;该设计基于TDC(时间数字转换原理),系统硬件主要由STM32f103单片机、Pcap01微电容测量芯片、显示模块和电源管理模块组成;整个仪器的硬件电路设计在同一块PCB电路板上,可增加集成度、减少仪器电路体积、增加空间利用率、提高硬件电路的电磁兼容性、方便各个模块之间的通讯;同时,编程了Pcap01初始化与单片机软件设计,在硬件电路的基础上实现了SPI通讯、显示屏控制,最终实现了便携式的电容测量;结果表明,该系统测量精度高,实时性好,可有效测量微小电容值,在以56 pF为参考电容时,测量精度可达13.5 fF.

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来源
《计算机测量与控制》 |2018年第9期|17-22|共6页
作者
王海霞; 林倩;
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作者单位

青海民族大学;

西宁810007;

青海民族大学;

西宁810007;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类自动控制、自动控制系统;
关键词
STM32; Pcap01; 微弱电容检测;

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