机内测试技术综述

谢永成; 董今朝; 李光升; 魏宁

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机内测试(BIT)是一种能显著提高系统测试性和诊断能力的重要技术,是实现可测试性设计的重要技术手段之一,文章在综合大量文献的基础上介绍了机内测试技术的定义、特点、结构、分类以及国内外发展现状等,重点阐述了目前研究和应用中的智能BIT技术,即灵巧BIT、自适应BIT以及基于时间应力测量的增强BIT,智能BIT技术大大改善了当前研究应用中存在的虚警率较高的不足,成为测试领域21世纪的重点研究项目之一,最后对测试性技术的发展趋势进行了探讨和展望.

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来源
《计算机测量与控制》 |2013年第3期|550-553|共4页
作者
谢永成; 董今朝; 李光升; 魏宁;
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作者单位

装甲兵工程学院控制工程系;

北京 100072;

装甲兵工程学院控制工程系;

北京 100072;

装甲兵工程学院控制工程系;

北京 100072;

装甲兵工程学院控制工程系;

北京 100072;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试技术及设备;
关键词
机内测试; 测试性; 虚警; 智能BIT;

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