基于BIT的PXI总线导弹测试系统设计

薛艳; 赵利军; 江浩; 顾欣

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基于BIT的PXI总线导弹测试系统设计

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摘要

BIT和ATE已成为提高复杂系统测试性、维修性的有效途径;PXI总线被广泛地应用于自动化测试领域;在资源配置、模块设计、系统设计、兼容性设计、容差设计等方面的分析基础上,该论文提出了一般性BIT和ATE设计的原则;对导弹测试发射控制系统基于BIT和ATE的PXI总线一体化设计进行了研究,给出了系统级测试结构图和电路板级测试结构图,以及软件的总体设计;该技术的应用将进一步推动导弹测试发射控制系统的智能化、通用化和小型化,从而提高导弹的整体性能.

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来源
《计算机测量与控制》 |2010年第6期|1352-1354|共3页
作者
薛艳; 赵利军; 江浩; 顾欣;
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作者单位

第二炮兵工程学院;

陕西;

西安;

710025;

第二炮兵工程学院;

陕西;

西安;

710025;

第二炮兵工程学院;

陕西;

西安;

710025;

西北农林科技大学;

陕西;

西安;

712100;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TH873.7;
关键词
机内测试BIT; ATE; PXI总线; 边界扫描; 测试发射控制;

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