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基于边界扫描的混合电路系统机内测试研究

         

摘要

当今电子系统多由模数混合电路组成,随着电子技术的飞速发展,混合电路系统的集成度不断增加,其检测问题一直是测试领域的一个难点;针对混合电路系统的测试特点,以IEEE1149.4标准为研究基础,对某系统控制盒电路进行基于边界扫描的BIT(Builit-in Test机内测试)测试性设计和改造,并将改进后的被测系统进行测试性验证;实验结果表明,该电路系统通过74BCT8373与STA400边界扫描芯片的置换和置人,能够实现混合电路的互连测试与参数测试,且测量迅速,故障定位准确,可以有效提高电路系统的测试性.

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