基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计

高艳辉; 赵蕙; 肖铁军

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基于IEEE1149.1标准的边界扫描控制器的设计

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为克服传统基于PC机的边界扫描测试系统所具有的独立性差,测试速度慢等缺点,从IEEE1149.1标准及边界扫描测试的功能需求入手,将边界扫描测试技术与SOPC技术相结合,提出了一种灵活、高效的嵌入式系统解决方案;该方案从IEEE标准及边界扫描测试的功能需求入手,设计了边界扫描测试系统的核心--边界扫描控制器,论文对该控制器的设计是采用自顶向下的模块化设计思想,VHDL语言描述实现;并将该控制器嵌入在具有Nios软核CPU的FPGA上,提高了系统设计的灵活性及边界扫描测试的速度;仿真结果表明该设计方案是正确可行的.

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来源
《计算机测量与控制》 |2010年第11期|2550-2552|共3页
作者
高艳辉; 赵蕙; 肖铁军;
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作者单位

江苏大学计算机科学与通信工程学院;

江苏镇江212013;

江苏大学计算机科学与通信工程学院;

江苏镇江212013;

江苏大学计算机科学与通信工程学院;

江苏镇江212013;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
IEEE1149.1标准; 边界扫描控制器; SOPC; NiosⅡ处理器;

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