基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法

何怡刚; 杜社会; 阳辉; 方葛丰

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基于BIST的动态可重构FPGA的时延故障测试方法

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FPGA市场已经进入极速发展时代,不同的销售商已向市场投入更多更快的FPGA器件.随着FPGA器件的迅速发展,FP-GA的密度和复杂程度也越来越高,使大量的故障难以使用传统方法进行测试.因此,对FPGA器件的故障测试和故障诊断方法进行更全面的研究具有重要意义.为此重点研究了动态重构FPGA及其基本结构、特点;在此基础上探讨了基于BIST技术的FPGA时延故障测试方法,并成功应用于Lattice ORCA 2C系列FPGA中.实验证明,该BIST方法是可行且有效的,并且不需要昂贵的ATE设备.

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来源
《计算机测量与控制》 |2009年第1期|5-8|共4页
作者
何怡刚; 杜社会; 阳辉; 方葛丰;
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作者单位

湖南大学电气与信息工程学院;

湖南;

长沙;

410082;

湖南大学电气与信息工程学院;

湖南;

长沙;

410082;

湖南大学电气与信息工程学院;

湖南;

长沙;

410082;

湖南大学电气与信息工程学院;

湖南;

长沙;

410082;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP407;
关键词
BIST; FPGA; 动态可重构; 时延故障;

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