基于时间放大的光盘抖晃测试系统设计

周为; 阮昊; 施宏仁; 余超群

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基于时间放大的光盘抖晃测试系统设计

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利用TIA(时序分析仪)或其它模拟方法来测最光盘的抖晃存在成本高、灵活性差、稳定性低等不足,而在实际的光盘生产测试过程中,更需要一种升级扩展方便、性价比高的测试设备.在粗糙脉宽检测方法的基础上,引入时间放大电路,成功地设计出一套以FPGA为核心,基于PCI Express总线的抖晃测试系统;实验表明,该系统具有结构简单、精度高、设计灵活、成本低等特点,在光盘测试和抖晃特性研究方面具有较好的成用价值和一定的市场前景.

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来源
《计算机测量与控制》 |2009年第11期|2145-2149|共5页
作者
周为; 阮昊; 施宏仁; 余超群;
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作者单位

中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室;

上海;

201800;

中国科学院研究生院;

北京;

100039;

中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室;

上海;

201800;

中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室;

上海;

201800;

中国科学院上海光学精密机械研究所强激光材料重点实验室;

上海;

201800;

中国科学院研究生院;

北京;

100039;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光存贮器及其驱动器;
关键词
抖晃; 脉宽测量; 时间放大; FPGA; PCI; Express;

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