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线阵CCD在高精度测径系统中的应用

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摘要

针对工业中用千分尺人工对工件直径测量的落后方法,文章设计了一套利用线阵CCD对直径实现精密测量的系统;该系统基于光学系统无接触性测量的基本原理,运用光学测量的理论和一般方法,设计并讨论了在实际运用中存在的问题及解决办法;实践证明,该系统运行稳定可靠,测量精度达到了微米级,可以用于实际的直径测量.

著录项

来源
《计算机测量与控制》 |2006年第2期|175-176185|共3页
作者
马登极; 朱善安; 王长军;
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作者单位

浙江大学电气学院;

浙江;

杭州;

310027;

浙江大学电气学院;

浙江;

杭州;

310027;

浙江大学电气学院;

浙江;

杭州;

310027;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类光度学（测光学）;
关键词
线阵CCD; 测径光学系统; 边缘点;

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