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LD老化筛选及寿命测试系统

         

摘要

介绍了半导体激光二极管(LD)老化及寿命测试的理论依据,给出了寿命测试的数学模型,并据此研制了新型LD老化筛选及寿命测试系统,该系统在密封抽真空充氮环境下,通过采集恒流工作LD的平均输出光功率随时间变化的信息及所处环境的温度,绘制LD的老化曲线,即恒流条件下的"P-t曲线",然后推断LD的使用寿命.

著录项

  • 来源
    《计算机测量与控制》 |2003年第4期|250-253|共4页
  • 作者

    亢俊健; 苏美开; 王大成;

  • 作者单位

    中国矿业大学;

    机电与信息工程学院;

    北京;

    100083;

    海特光电有限责任公司;

    北京;

    100083;

    北京理工大学;

    机电工程学院;

    北京;

    100081;

    海特光电有限责任公司;

    北京;

    100083;

    中国地质大学;

    地球物理与信息技术学院;

    北京;

    100083;

    海特光电有限责任公司;

    北京;

    100083;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 应用;
  • 关键词

    激光二极管; 老化筛选; 寿命测试;

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