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线阵CCD测量干涉条纹抽样问题的讨论

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摘要

对利用线阵CCD测量干涉条纹中,由于CCD本身的分离性和象元的积分效应,以及干涉条纹(余弦信号)抽样的特殊性,深入讨论了"如何确定可测量条纹最大空间频率"、"象元积分效应对抽样的影响"和"象元相位匹配对条纹对比度的影响"等3个问题,结果对于利用线阵CCD测量干涉条纹具有一般性的指导意义.

著录项

来源
《计算机测量与控制》 |2002年第6期|371-372|共2页
作者
董伟; 李瑞;
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作者单位

石家庄军械工程学院;

河北;

石家庄;

050003;

石家庄军械工程学院;

河北;

石家庄;

050003;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类干涉与衍射;
关键词
CCD; 干涉条纹; 抽样定理;

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