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NI STS增强RF测量功能,进一步降低半导体测试成本

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NI公司宣布为半导体测试系统（STS）增加了全新的RF功能，使其可提供更高的收发功率、以及基于FPGA的实时包络跟踪（Envelop Tracking）和数字预失真处理（Digital Pre-Dis-tortion）。

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《计算机测量与控制》 |2016年第10期|290-290|共1页
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正文语种 chi
中图分类 TN304.23;
关键词
测量功能; NI公司; 半导体; 测试成本; RF; STS; 数字预失真; 测试系统;

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