IP软核的测试技术研究

国海欣

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随着超大规模集成电路技术的不断发展,集成电路的集成度不断增加,片上系统(SOC)的规模越来越大,片上系统的设计就变得越来越复杂.开发IP核成为SOC的重要设计手段.同时,IP核的测试也对科研人员提出了新的挑战.本文重点描述了IP的测试技术,证明了文献[1]中给出的伪穷举法.并以可编程8255并行I/O接口芯片为例说明了使用伪穷举法进行了IP核校验的方法.

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来源
《电脑编程技巧与维护》 |2003年第8期|40-41,45|共3页
作者
国海欣;
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作者单位

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类计算技术、计算机技术;
关键词
IP软核; VHDL; IP核测试; 8255; 伪穷举法;

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