首页> 中文期刊> 《计算机仿真》 >透射电子显微镜图像畸变快速校正仿真

透射电子显微镜图像畸变快速校正仿真

         

摘要

针对当前方法进行电子显微镜图像畸变校正时,存着图像校正误差较大、完成时间过长,能量消耗较大等问题.提出基于双粒子群优化算法的图像畸变快速校正方法.通过对透射电子显微镜图像畸变进行分析,获取显微镜图像畸变前和和畸变后坐标之间对应关系,将其对应关系进行多项式变换,求出多项式拟合后最小误差,获取电子显微镜畸变测度,采用电子显微镜图像固定惯性权重,以立方映射混沌因子对过程中不动的粒子进行扰动,采用电子显微镜图像自适应的惯性权重,以适应度值来对惯性权重大小进行调节,以两种方法过程中的最优粒子作为全局最优解,完成图像畸变快速校正.实验结果表明,所提方法在进行图像畸变校正时误差较小、完成时间较短、能量消耗较小.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号