一种可重用的验证平台结构

著录项

• 来源
  《计算机技术与发展》 |2005年第3期|127-129|共3页
• 作者

  詹文法; 马俊; 张溯; 许修兵;

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• 作者单位

  安庆师范学院;

  教育技术系;

  安徽;

  安庆;

  246011;

  合肥工业大学微电子设计研究所;

  安徽;

  合肥;

  230009;

  安庆师范学院;

  教育技术系;

  安徽;

  安庆;

  246011;

  合肥工业大学微电子设计研究所;

  安徽;

  合肥;

  230009;

  安庆师范学院;

  教育技术系;

  安徽;

  安庆;

  246011;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 测试和检验;
• 关键词

  验证平台; 功能验证; 总线; 系统芯片; 可重用性;