2020第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议征稿通知(ISTAI’2020)

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由中国仪器仪表学会和北京信息科技大学联合主办的“2020第八届国际测试自动化与仪器仪表学术会议”将于2020年11月举办。会议旨在为自动化测试与仪器领域的专家学者、科研人员、技术工程师搭建了解测试测量领域国际前沿技术的平台,会议主题:“智慧感知、共享决策、智能控制、个性服务”,以信息化、智能化助推自动化技术发展,研讨面向工业4.0和互联网+的新一代智能测控技术,增强国内学术界、产业界同国际同行间的交流和合作。届时来自世界各地的代表们将欢聚一堂,探讨本领域科技创新、行业发展趋势、热点技术应用、交流学术成果,增进相互间的了解和沟通。

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来源
《电子测量技术》 |2020年第6期|F0002|共1页
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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类中国工业经济;
关键词
技术工程师; 行业发展趋势; 测试自动化; 仪器仪表; 个性服务; 科研人员; 热点技术; 学术会议;

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