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原子层沉积技术选择性修饰Mo/HZSM-5对甲烷无氧芳构化反应的影响

         

摘要

利用原子层沉积(ALD)技术选择性沉积SiO2于Mo/HZSM-5催化剂外表面,制备一系列硅修饰的Mo/HZSM-5催化剂,并考察其催化甲烷无氧芳构化反应的性能。通过XRD、NH3-TPD、BET、XPS、TEM等表征手段对其进行表征,结果发现,ALD沉积二氧化硅于Mo/HZSM-5后,SiO2主要沉积于催化剂外表面,催化剂中强酸含量下降,提高了催化剂催化甲烷无氧芳构化性能。

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