高压直流GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚与消散的仿真研究

尚帅川; 张周胜; 王亚

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高压直流GIL中盆式绝缘子表面电荷积聚与消散的仿真研究

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温度梯度和表面电导作为影响盆式绝缘子表面电荷积聚和消散的重要因素却常被忽略。基于因GIL不同筒壁温度与中心电极构成的不同温度梯度而形成的表面电导率梯度和固体侧体积电导率梯度进行有限元仿真,研究温度梯度和电压幅值对绝缘子表面电荷积聚和消散的影响及GIL实际运行过程中的表面电荷积聚和消散主导机制及最适筒壁温度。研究结果表明,高压直流下盆式绝缘子表面电荷积聚和消散的主导机制均为体电导主导,表面电导的贡献比体电导小2个数量级,气体电导的贡献可忽略不计,绝缘子表面电荷积聚和消散均符合双指数函数模型,上表面电荷聚散相比下表面对温度梯度的敏感性更高,提高筒壁温度可有效削弱绝缘子表面沿面电场畸变、抑制表面电荷积聚并促进表面电荷消散,GIL最适筒壁温度在318K附近。

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来源
《水电能源科学》 |2021年第1期|179-182|共4页
作者
尚帅川; 张周胜; 王亚;
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作者单位

上海电力大学电气工程学院;

上海200090;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类高电压绝缘技术;
关键词
表面电荷积聚; 表面电荷消散; 温度梯度; 主导机制; 沿面电场;

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