光传感器中劣化绝缘子非接触式检测技术研究

吴启进; 刘继承; 汤正汉; 李明; 罗洋

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光传感器中劣化绝缘子非接触式检测技术研究

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传统的检测技术在检测光传感器中的劣化绝缘子时,检测范围小,成本高,且工作人员必须要直接接触传感器。为了解决上述问题,提出了一种新的光传感器中劣化绝缘子检测技术。利用驱动控制电机、LD光源、调节电路、光学传感头和电源设定检测通道,通过光纤自动判断绝缘子串的空间分布特性,将分析数据与数据库中的标准数据进行对比,得到检测结果。为验证所提检测技术的工作效果,与传统技术进行实验对比,结果表明,运用所提技术对劣化绝缘子进行检测时,检测成本远低于传统方法,说明该技术能够实现非接触式检测,检测范围广,成本低,对于保障电网安全运行有重要的意义。

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来源
《自动化与仪器仪表》 |2020年第1期|177-180|共4页
作者
吴启进; 刘继承; 汤正汉; 李明; 罗洋;
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作者单位

国网湖北省电力公司检修公司;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类信息处理（信息加工）;
关键词
光传感器; 劣化绝缘子; 非接触式检测; 检测技术; 信息存储;

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