超大规模FPGA的单粒子效应脉冲激光测试方法

著录项

• 来源
  《微电子学》 |2018年第4期|548-554|共7页
• 作者

  刘宇翔; 张战刚; 杨凯歌; 雷志锋; 黄云; 恩云飞;

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• 作者单位

  工业和信息化部电子第五研究所电子元器件可靠性物理及其应用技术重点实验室;

  广州510610;

  华南理工大学电子与信息学院;

  广州510641;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 可靠性及例行试验;
• 关键词

  FPGA; 单粒子效应; 脉冲激光; 辐照测试; 单粒子翻转极性;