利用数字化仪实现α、β平面源表面粒子发射率的绝对测量

路天翔; 周倩倩; 张明; 拓飞; 孔淑颖

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利用数字化仪实现α、β平面源表面粒子发射率的绝对测量

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目的为验证数字化仪代替传统电子学插件进行放射性核素测量的有效性和准确性。方法基于大面积流气式多丝正比计数器2πα、2πβ表面粒子发射率测量装置,采用CAEN公司开发的DT5730型数字波形采样器对α平面源^(241)Am和不同能量的β平面源核素^(14)C、^(36)Cl和^(90)Sr-^(90)Y进行波形信号采集、幅度分析和数据处理。结果在电子学阈值、高压等实验条件一致情况下,经死时间、本底修正后得到的α、β表面粒子发射率结果与基于插件定标器得到的测量结果偏差均在0.6%以内,在不确定度范围内相一致。结论数字化仪可有效替代传统电子学插件实现α、β信号的采集和处理,实现α、β发射率准确测量。

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来源
《中国辐射卫生》 |2023年第1期|1-5|共5页
作者
路天翔; 周倩倩; 张明; 拓飞; 孔淑颖;
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作者单位

中国疾病预防控制中心辐射防护与核安全医学所;

北京100088;

中国计量科学研究院;

北京100029;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类电离辐射和放射性计量;
关键词
数字化仪; 计量学; 正比计数器; 平面源; 发射率;

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