首页> 中文期刊> 《微电子学》 >基于SAT的组合电路自动测试向量生成

基于SAT的组合电路自动测试向量生成

开具论文收录证明 >>

文献代查 >>

页面导航

摘要
著录项
相似文献
相关主题

摘要

实现了基于可满足性(SAT)求解的方法,以解决固定型和时延故障的自动测试向量生成问题。详细讨论了如何利用电路的拓扑结构以及从ATPG到合取范式(CNF)的编码方法。CNF被输入到一个高效的SAT求解器zchaff中求解。在ISCAS85测试实例中验证了该算法的有效性。

著录项

来源
《微电子学》 |2011年第2期|230-234|共5页
作者
付宇; 吴为民; 姜升; 霍翔;
展开▼
作者单位

北京交通大学计算机与信息技术学院;

北京100044;

展开▼
原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
测试向量自动生成; 可满足性; 故障字典; 延迟故障;

相似文献

中文文献
外文文献
专利

1. 门级电路自动测试向量生成技术原理 [J] . 刘观生 ,葛海通 ,陈偕雄 . 浙江大学学报（理学版） . 2006,第1期
2. 一种基于SAT求解器的组合电路重汇聚现象分析方法 [J] . 张璐婕 ,刘畅 ,张龙 . 计算机科学 . 2019,第4期
3. SAT数据结构与组合测试生成 [J] . 刘歆 . 微电子学与计算机 . 2003,第5期
4. 含存储器数字电路系统的自动测试生成 [J] . 成本茂 ,杨士元 ,王红 . 计算机工程 . 2007,第23期
5. 数字电路自动测试生成实用化软件 [J] . 白玉媛 ,杨士元 ,王红 . 计算机应用研究 . 2006,第1期
6. 由被测电路自己产生测试向量的自动测试生成 [C] . . 第五届中国测试学术会议 . 2008
7. 基于RTL描述的组合电路自动测试生成技术研究 [A] . 陈骥 . 2001

获取原文

客服邮箱：kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备：11010802029741号 ICP备案号：京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有

客服微信
服务号