金属化薄膜电容器高频阻抗参数测试方法研究

阮黎君; 王欣; 吕昕

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金属化薄膜电容器高频阻抗参数测试方法研究

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金属化薄膜电容器阻抗参数在测试过程中极易受到环境干扰,导致阻抗参数测试速率低、抗扰性能差。为解决上述问题,提出了金属化薄膜电容器高频阻抗参数测试方法研究。首先将互感器与电容器串联,结合数据特征挖掘算法进行样本数据的采样,并剔除金属化薄膜电容器高频阻差异数值,确定高频阻抗参数测试的标准参数;进一步结合参数之间的关系,得到金属化薄膜电容器高频阻抗的测试方程,完成金属化薄膜电容器高频阻抗参数测试模型的构建;最后通过金属化薄膜电容器高频阻抗参数测试方案的拟定,实现对金属化薄膜电容器高频阻抗参数的准确测试。实验结果表明,提出的高频阻抗参数测试方法相比于传统测试方法,高频阻抗参数测试过程中的抗扰性能明显提高,检测速率提高了60.58%。

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来源
《自动化与仪器仪表》 |2020年第8期|45-48|共4页
作者
阮黎君; 王欣; 吕昕;
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作者单位

西安铁路职业技术学院;

西安710014;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类信息处理（信息加工）;
关键词
金属化薄膜; 电容器; 高频阻抗参数; 测试原理;

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