一种ATE测试向量时序优化算法

陈辉; 姚若河; 王晓晗; 恩云飞; 魏建中

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介绍了自动测试设备(ATE)测试信号合成的基本原理,讲述了ATE测试时序的结构和特点,分析了VCD(Value Change Dump)文件的语法结构和特点,提出了一种ATE测试时序优化算法,包括VCD时间沿的修剪和分辨率降低原则。经过时序优化算法处理的VCD文件,在进行测试向量转换时,生成的测试时序中,定时沿的数量得到有效控制,测试波形数量明显减少,避免了ATE定时沿数量和波形存储深度的物理限制,保证了测试向量转换后编译的成功率。同时,定时沿和测试波形数量的减少,不仅提高了测试向量转换效率,还缩短了测试程序调试(Debug)时间,达到了提高集成电路测试程序开发效率的目的。

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来源
《微电子学》 |2011年第2期|310-314|共5页
作者
陈辉; 姚若河; 王晓晗; 恩云飞; 魏建中;
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作者单位

工业和信息化部电子第五研究所;

广州510610;

华南理工大学;

广州510641;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类可靠性及例行试验;
关键词
自动测试设备; 集成电路测试; VCD文件; 测试时序; 测试向量;

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