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射线探测技术与装置

         

摘要

<正> TG115.281 2004032209 基于加权减影的非等厚工件的X射线检测=Inspectionfor the uneven workpieces on the base of subtracting thebackground and weighted averaging[刊,中]/孔凡琴(北京航空航天大学现代无损检测中心.北京(100083)),贾磊∥

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  • 来源
    《中国光学(中英文)》 |2004年第3期|79-79|共1页
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  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TP274.5;
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