首页> 中文期刊> 《中国光学(中英文)》 >光学薄膜参数测试

光学薄膜参数测试

         

摘要

<正> O484.5 2003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherent transmissivity and reflectivity of an absorbingplane plate or layer with linear variations in thickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

著录项

  • 来源
    《中国光学(中英文)》 |2003年第5期|75-75|共1页
  • 作者

  • 作者单位
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 O484.41;
  • 关键词

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号