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＜正＞ O484.5 2002010501反射干涉光谱法测量固体薄膜的光学常数和厚度=Re-flection interference method for determining opticalconstants and thickness of a thin solid film[刊,中]/杨鹏,徐志凌,徐雷(复旦大学物理系三束材料改性国家

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《中国光学(中英文)》 |2002年第1期|70-70|共1页
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正文语种 chi
中图分类 O484.41;
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