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光学薄膜参数、测试及设备

         

摘要

<正> O484.5 95021095Y—Ba—Cu—O超导薄膜在其临界温度附近的克尔效应观测[会,中]/钱小陵(首都师范大学物理系),王国文(北京大学物理系)∥第6届全国基础光学学术报告会.—大连,94.6利用偏振面微小旋转的测量技术,对氧化锆和钛酸锶基底上的Y—Ba—Cu—O薄膜进行反复测量,垂直薄膜的磁场加高到大约0.5T(5000高斯)结

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    《中国光学(中英文)》 |1995年第2期|57-58|共2页
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  • 正文语种 chi
  • 中图分类 O484.41;
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