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＜正＞ O433.4 2001042336复杂凝聚态体系的椭偏光谱分析=Spectroscopic ellipsometryof complex condensed state systems[刊,中]/莫党,阳生红,蒋志洁（中山大学物理系.广东,广州（510275））,李秋俊（重庆邮电学院电子信息工程系.重庆（400065））//第十届全国凝聚态光学性质学术会议.-内蒙古海拉尔,2000.08.-8讲述复杂凝聚态体系的椭偏光谱分析的计算过程,用自动化椭偏光谱仪测量了碳离子注入硅得到的SiC/SI异质结构以及ZnO/SiO2多层膜的紫外可见椭偏光谱,并成功地进行了解谱,得到有价值的物性参数和结构参数

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《中国光学(中英文)》 |2001年第4期|13-14|共2页
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正文语种 chi
中图分类光谱分析;
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