光谱分析与光谱测量

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＜正＞ O433’98020792GaAs表面Si-δ掺杂的调制光谱研究=Study of opticalproperties of surface Si-δ doping on GaAs（001）by PR[刊,中]/刘兴权,陆卫,陈效双,乔怡敏,史国良,沈学础（中科院上海技物所红外物理国家重点实验室.上海（200083））∥量子电子学报.-1997,14（4）.-289-293利用光调制光谱与分子束外延结合的方法,原位测量GaAs（001）表面Si-δ掺杂结构样品,排除了FK振

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《中国光学(中英文)》 |1998年第2期|15-17|共3页
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正文语种 chi
中图分类光谱学;
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