反符合屏蔽低本底Ge（Li）γ谱仪

宋绍仪; 李瑞香; 刘新华; 曹音捷

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反符合屏蔽低本底Ge（Li）γ谱仪

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本文报道了一台由Ge（Li）主探测器和环形NaI（Tl）反符合探测器组成的高灵敏度γ谱仪的结构、性能和应用。谱仪用交替的物质屏蔽和井形NaI（Tl）反符合屏蔽降低本底。Ge（Li）探测器的体积为78cm~3,对60Co 的1332keVγ射线的分辨率为2.42keV,不加任何屏蔽时峰康比为36.4,相对效率为16%,对187Cs 点源γ射线全能峰的探测效率为1.6%。本谱仪在不加和加反符合屏蔽时,对137Cs 点源的峰康比分别为79和333;康普顿区积分抑制因子为3.67,康普顿端抑制因子为5.2;在50—2700keV 能量范围内,本底抑制因子为3.2。在物质屏蔽和反符合屏蔽条件下,在上面的能量范围内,谱仪本底为24cpm。对137Cs 点源,当测量时间为1000min、置信水平为95%时,谱仪的最小探测限（判断限）为2.2×10-2Bq（0.59pCi）。本谱仪主要用于分析测量环境样品和其他低水平放射性样品中发射γ射线的核素的含量。

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来源
《辐射防护》 |1988年第1期|31-40|共10页
作者
宋绍仪; 李瑞香; 刘新华; 曹音捷;
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作者单位

中国原子能科学研究院;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
低水平测量; γ谱仪; Ge（Li）;

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