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微功能级的微处理器控制功能测试

         

摘要

微功能操作是从微操作中抽象出来的,可通用于各种微处理器(μP).在微功能级上开展μP控制功能测试可望获得较高的故障覆盖率.本文定义了微功能操作及μP控制功能的故障模型,考虑了三种基本的微功能操作;传输类、算术逻辑类、条件转移类.文章最后给出了μP控制功能测试的具体方法.

著录项

  • 来源
    《微电子学与计算机》 |1988年第7期|13-17|共5页
  • 作者

    廖强;

  • 作者单位

    西南财经大学信息系;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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