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锡锑中间层在钛基二氧化铅电极中作用机理探讨

         

摘要

本文研究了锡锑中间层的结构及降低钛基二氧化铅电极界面电阻的机理。掺Sb的SnO2中间层显著改善了钛基二氧化铅电极的稳定性,提高了使用寿命。x射线衍射分析结果表明,中间层的主要成份是SnO2与SbOx的固溶体,同时在Ti/SnO2界面上还有量Ti4Sb、Ti3Sb Ti3Sn和(SbTi1.2)O。因而提出了电极结构模型的假设,并且解释了中间层对降低界面电阻,改进β—PbO2/SnO2与Ti/SnO2之间结合强度的有益作用。

著录项

  • 来源
    《上海交通大学学报》 |1982年第4期|25-34|共10页
  • 作者

    黄永昌; 叶慧娟; 章燕豪;

  • 作者单位

    上海交通大学应用化学系;

    上海交通大学应用化学系;

    上海交通大学应用化学系;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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