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减小集成电路早期失效率的体会

         

摘要

<正> 在一定范围内,随着计算机运行时间的积累,集成电路的失效率将逐步减小,机器的可靠性将逐步增加。集成电路的早期失效率直接决定着计算机早期平均无故障工作时间。装机时集成电路的失效率愈小,机器的调试就愈顺利,就能较早地达到一定的平均无故障工作时间。可靠性问题涉及的面较广。国外曾投以大量人力物力,对一些系统中的电路的可靠性进行了相当长时间的努力。近几年来,我国集成电路可靠性方面的问题已经得到初步

著录项

  • 来源
    《微电子学与计算机》 |1977年第3期|7-15|共9页
  • 作者

  • 作者单位

    长沙工学院计算机研究所;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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