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我厂在电路元件筛选、电装工艺及调试等方面的一点体会

         

摘要

<正> 在电路元件筛选方面,我们认为组件老化条件不宜过苛,因属损坏性试验,过苛条件对组件寿命不利,反而降低整机的可靠性。譬如,我厂生产的车床数模箱和台式电子计算机所用元、组件皆未经老化处理,但经使用至今证明年损坏率是较低的,数模箱的年损坏率在5‰左右。又如有的单位,高温老化160℃,我们降为100℃,电老化80℃+6V,我们降为80℃+5V,经初步使用,证明没有明显不同处,如老化中的损坏率、分板调试中的损坏率

著录项

  • 来源
    《微电子学与计算机》 |1977年第3期|71-72|共2页
  • 作者

  • 作者单位

    湖北无线电厂;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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