CPU测试图案的优化

郑木财

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CPU测试图案的优化

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＜正＞由于集成电路集成度的不断提高,CPU功能也不断增强。通过有限的外引线检测和诊断CPU的功能乃是各集成电路厂家共同关心的问题。目前常用的测试方法有:试验法,样品比较法和存贮器响应法（包括逻辑模拟、程序仿真与样品学习法）,不管哪一种测试方法,都存在一个测试图案优化问题,即用最少的测试图案,有效而迅速地检查和诊断CPU的功

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来源
《微电子学与计算机》 |1984年第5期||共页
作者
郑木财;
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作者单位

骊山微电子公司;

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正文语种 chi
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