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一种峰值功耗约束下的SoC蚁群测试调度算法

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摘要

基于扫描链技术的SoC芯片测试可产生比正常使用模式下更大的功耗,这将会对器件可靠性产生不利影响,故在测试时需要将芯片测试功耗控制在允许峰值功耗之下.文中采用蚁群优化思路设计SoC测试调度算法,用于在峰值功耗和TAM总线最大宽度约束下降低SoC测试时间.实验结果表明,本方法优于先前已发表的相关方法.

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来源
《微电子学与计算机》 |2011年第7期|5-8|共4页
作者
崔小乐; 程伟; 李崇仁;
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作者单位

北京大学深圳研究生院集成微系统科学工程与应用重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类程序设计、软件工程;
关键词
测试调度; 测试功耗; 蚁群优化;

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