一种基于LUT和二模冗余的胚胎数字电路故障检测方法

王涛; 蔡金燕; 孟亚峰

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一种基于LUT和二模冗余的胚胎数字电路故障检测方法

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研究了数字电路故障的基本特点,结合电路自修复对故障信息的要求,提出了一种基于LUT和二模冗余的故障检测方法,该方法利用LUT来存储细胞正常工作的状态,利用正常工作状态和实际工作状态的对比,来实现细胞工作状态的实时监测,从而检测细胞是否故障.该方法能够同时对多个细胞进行检测,增加故障覆盖率,减少了设计的复杂程度和硬件资源的消耗,具有很好的工程实用价值.

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来源
《微电子学与计算机》 |2016年第7期|102-105|共4页
作者
王涛; 蔡金燕; 孟亚峰;
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作者单位

军械工程学院电子与光学工程系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类程序设计、软件工程;
关键词
胚胎数字电路; LUT; 二模冗余; 故障检测;

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