基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究

苏波

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基于IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的测试技术研究

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随着电子技术的飞速发展,电路的集成度越来越高,使其测试面临越来越多的问题。可测性设计成为解决测试问题的主要手段之一,而边界扫描技术是众多可测性设计方法中使用较为广泛的一种。在深入研究IEEE1149.1及IEEE1149.4标准的基础上,对基于边界扫描可测性结构进行了探索,具有重要的理论价值和实际意义。

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来源
《国外电子测量技术》 |2012年第4期|34-37|共4页
作者
苏波;
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作者单位

广西工商职业技术学院;

桂林电子科技大学;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TP393.11;
关键词
可测性设计; 边界扫描; IEEE1149.4;

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