Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能

陈志武; 胡乔生; 张颖; 程璇; 张喜燕

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Sb-Se系和Ge-Sb-Te系相变光盘记录介质的热力学参数、微观结构及光学性能

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利用DSC,X射线衍射及分光光度计,对Sb-Se系和Ge-Sb-Te系记录介质的热力学参数、非晶态薄膜相变前后结构的变化及光学性能进行了系统的研究,结果表明:Sb—Se系非晶态的光稳定性很不理想,随着彼长的改变,反射率变化太快。对于Ge—Sb—Te系的两种成分合金,在各种波段处都有较大的反衬度,其非晶态的光稳定性也比较理想,随着波长的改变,反射率变化不大。

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来源
《金属学报》 |2003年第7期|775-780|共6页
作者
陈志武; 胡乔生; 张颖; 程璇; 张喜燕;
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作者单位

厦门大学材料科学与工程系;

赣南师范学院化学与化工系;

厦门大学化学系;

西南交通大学材料工程系;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类薄膜的生长、结构和外延;薄膜的性质;
关键词
相变光盘; 记录介质; 热力学参数; 光学; 薄膜;

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