超高速相位量化ADC的表征与测试

张有涛; 夏冠群; 李拂晓; 高建峰; 杨乃彬

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文章详细分析并讨论了应用于相位体制DRFM的ADC参数表征及测试方法。提出用相位非线性(PDNL和PINL)来描述相位体制ADC的静态性能,用瞬时工作带宽(IBW)及相位精度随频率的变化来描述相位ADC的频域性能。采用上述方法对利用南京电子器件研究所标准3"GaAsMESFET全离子注入工艺流片得到的3bit相位体制ADC进行了性能表征及测试,结果表明其静态PDNL≤0.01LSB,PDNL≤±0.007LSB;电路可在2GHz时钟下完成采样、量化,达到2Gbps的转换速率,其瞬时带宽可达250MHz,带内相位精度小于±0.45LSB。

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来源
《微电子学与计算机》 |2005年第2期|22-24|共4页
作者
张有涛; 夏冠群; 李拂晓; 高建峰; 杨乃彬;
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作者单位

中国科学院上海微系统与信息技术研究所;

南京电子器件研究所;

南京210016;

南京电子器件研究所;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类线性集成电路、模拟集成电路;数字电路;
关键词
相位体制模数转换器; 表征; 数字射频存储器; GaAs; MESFET;

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