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一种基于JTAG的SOC测试电路设计及实现

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摘要

提出了一种基于JTAG的新的测试电路设计思路.通过扩展JTAG指令,可以利用JTAG通信协议向SOC芯片中下载自定义的测试指令,并读回测试的最终结果.该方法可以对SOC内部的IP及存储器进行充分的功能测试,测试过程可灵活配置,可以快速定位测试中出现的问题.

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来源
《微电子学与计算机》 |2009年第1期|187-189|共4页
作者
郑晓光; 白国强;
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作者单位

清华大学微电子学研究所清华信息技术国家实验室(筹);

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类测试和检验;
关键词
JTAG; TAP; SOC; 测试; 可复用IP;

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