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切花菊‘长紫’辐照后代减数分裂行为及ISSR遗传变异分析

         

摘要

通过细胞学和分子标记技术对切花菊‘长紫’辐照后代进行分析,探讨辐射诱变机理,为菊花辐射育种提供理论依据。结果发现,辐照后代在减数分裂后期Ⅰ和后期Ⅱ出现落后染色体和染色体桥的异常率明显高于对照,且随着剂量升高异常率增加,两种异常现象发生的最高比率在后期Ⅰ分别为9.0%和11.3%,后期Ⅱ为15.5%和8.6%。用21个ISSR引物扩增得到多态性条带112条,多态性比率为71.3%,表明DNA在不同程度上发生了变异。通过UPGMA法将它们分为5类,聚类结果基本上与花型和花色的变异类型相关。

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