多重老化下纳米复合PI薄膜介电及耐局放性能分析

鄂士平; 刘东超; 熊慕文; 高森

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多重老化下纳米复合PI薄膜介电及耐局放性能分析

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在270℃、70℃及90%RH、320℃条件下对PI纳米复合薄膜进行长时间多重老化,测试了不同老化阶段PI薄膜的厚度、介电谱、电导率、局部放电起始电压及绝缘寿命。结果表明:经270℃老化后,PI薄膜的绝缘性能并未发生明显改变;而高湿度环境会对PI薄膜的介电谱、电导特性及局部放电起始电压产生明显影响但并未缩短其绝缘寿命;320℃高温会使PI薄膜内部结构发生变化,从而使其绝缘寿命缩短约30%。

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来源
《绝缘材料》 |2021年第3期|18-23|共6页
作者
鄂士平; 刘东超; 熊慕文; 高森;
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作者单位

国网湖北省电力有限公司;

湖北武汉430077;

南京南瑞继保电气有限公司;

江苏南京211102;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类固体电介质;
关键词
聚酰亚胺薄膜; 老化; 局部放电; 介电性能;

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