基于位流回读的VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法研究

阎哲; 张洪; 介百瑞; 阮爱武

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基于位流回读的VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法研究

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介绍一种采用位流回读针对VirtexⅡ内嵌BRAM的测试方法.该测试方法基于自主研发的FPGA测试平台,该测试系统能够对FPGA配置、施加测试向量、回收测试响应、并对故障进行诊断与定位,整个测试完全自动化,不需要人工干预.该测试系统的优点为设备简单、易于实现、完全自动化.在该测试系统的基础上,针对Virtex II系列FPGA内嵌核Block RAM提出了基于边界扫描和位流回读的测试方法.该方法首次将位流回读技术应用于FPGA的测试,基于位流回读的测试方法为FPGA的测试打开一个新的领域,对研究FPGA的测试方法有重要意义.

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来源
《微电子学与计算机》 |2016年第5期|58-61|共4页
作者
阎哲; 张洪; 介百瑞; 阮爱武;
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作者单位

电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类 TN791;
关键词
边界扫描; 位流回读; 存储器; 测试系统;

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