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面向SystemC的软错误敏感度分析方法

         

摘要

随着集成电路不断发展,软错误问题日益凸显,对系统可靠性造成越来越严重的影响.通对电路软错误率的分析可以准确评估系统可靠性,并为系统加固提供帮助.提出了一种面向SystemC的快速软错误敏感度分析方法:以分层抽样策略对系统接口与内部所有信号进行故障注入,结合统计结果与面积因子,评估系统软错误敏感度.实验以基于OR1200处理器最小系统的SystemC模型为对象,采用仿真故障注入方法构建测试平台,实现故障注入自动化.通过3个测试程序共计约30万次的注入实验,统计分析表明寄存器文件、PC计算以及指令缓存模块对软错误更加敏感.

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