嵌入式存储器的内建自修复设计

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• 来源
  《微电子学与计算机》 |2007年第2期|79-81|共4页
• 作者

  吴志伟; 邹雪城; 雷鑑铭; 刘勇;

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• 作者单位

  华中科技大学电子科学与技术系;

  亚芯微电子有限公司;

  湖北武汉430073;

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• 原文格式 PDF
• 正文语种 chi
• 中图分类 微电子学、集成电路（IC）;
• 关键词

  嵌入式存储器; 内建自测试; 内建自修复;