首页> 中文期刊> 《国外电子测量技术》 >DATE ’98反映了设计和测试观念的改变

DATE ’98反映了设计和测试观念的改变

         

摘要

从在巴黎召开的DATE’98会议可以看出,电子工业界的设计观念正从电路级设计向系统级设计转移,测试设计正从可测性设计向内置自测试转移。

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号